In Operando X-Ray Nanodiffraction Reveals Electrically Induced Bending and Lattice Contraction in a Single Nanowire Device
© 2015 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
| Publié dans: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 28(2016), 9 vom: 02. März, Seite 1788-92 |
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| Auteur principal: | |
| Autres auteurs: | , |
| Format: | Article en ligne |
| Langue: | English |
| Publié: |
2016
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| Accès à la collection: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) |
| Sujets: | Journal Article X-ray nanodiffraction lattice contraction single nanowire devices |
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