In Operando X-Ray Nanodiffraction Reveals Electrically Induced Bending and Lattice Contraction in a Single Nanowire Device
© 2015 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 28(2016), 9 vom: 02. März, Seite 1788-92 |
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1. Verfasser: | |
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Format: | Online-Aufsatz |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2016
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Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) |
Schlagworte: | Journal Article X-ray nanodiffraction lattice contraction single nanowire devices |
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