Solid immersion facilitates fluorescence microscopy with nanometer resolution and sub-ångström emitter localization

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 24(2012), 44 vom: 20. Nov., Seite OP309-13
1. Verfasser: Wildanger, Dominik (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Patton, Brian R, Schill, Heiko, Marseglia, Luca, Hadden, J P, Knauer, Sebastian, Schönle, Andreas, Rarity, John G, O'Brien, Jeremy L, Hell, Stefan W, Smith, Jason M
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2012
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't Solutions