Solid immersion facilitates fluorescence microscopy with nanometer resolution and sub-ångström emitter localization

Solid immersion facilitates fluorescence microscopy with nanometer resolution and sub-ångström emitter localization

Copyright © 2012 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 24(2012), 44 vom: 20. Nov., Seite OP309-13
1. Verfasser: Wildanger, Dominik (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Patton, Brian R, Schill, Heiko, Marseglia, Luca, Hadden, J P, Knauer, Sebastian, Schönle, Andreas, Rarity, John G, O'Brien, Jeremy L, Hell, Stefan W, Smith, Jason M
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2012
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't Solutions
Beschreibung
Zusammenfassung:Copyright © 2012 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
Exploring the maximum spatial resolution achievable in far-field optical imaging, we show that applying solid immersion lenses (SIL) in stimulated emission depletion (STED) microscopy addresses single spins with a resolution down to 2.4 ± 0.3 nm and with a localization precision of 0.09 nm
Beschreibung:Date Completed 01.05.2013
Date Revised 22.03.2024
published: Print-Electronic
Citation Status MEDLINE
ISSN:1521-4095
DOI:10.1002/adma.201203033