Statistical pattern classification with binary variables

Binary random variables are regarded as random vectors in a binary-field (modulo-2) linear vector space. A characteristic function is defined and related results derived using this formulation. Minimax estimation of probability distributions using an entropy criterion is investigated, which leads to...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence. - 1979. - 3(1981), 2 vom: 01. Feb., Seite 155-63
1. Verfasser: Young, T Y (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Liu, P S, Rondon, R J
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1981
Zugriff auf das übergeordnete Werk:IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence
Schlagworte:Journal Article