Rapid and sensitive XAFS using a tunable X-ray undulator at BL10XU of SPring-8
The design and performance of the high-brilliance XAFS facility at BL10XU of SPring-8, aimed at rapid and sensitive measurement of X-ray absorption fine structure (XAFS), is reported. Both undulator gap and double-crystal monochromator have been successfully controlled covering a wide energy range (...
Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 7(2000), Pt 2 vom: 01. März, Seite 89-94 |
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Format: | Aufsatz |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2000
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Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation |
Schlagworte: | Journal Article |