Linear combination of XANES for quantitative analysis of Ti-Si binary oxides

A new method is demonstrated for the quantification of Ti-O-Si and Ti-O-Ti bonds in Ti-Si binary oxides. It is based on the linear combination of two reference X-ray absorption near-edge structure (XANES) spectra at the Ti K edge. The proper selection of a Ti-O-Si reference material is most importan...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation. - 1999. - 8(2001), Pt 2 vom: 01. März, Seite 163-7
1. Verfasser:	Lee, J S (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kim, W B, Choi, S H
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2001
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:	Journal Article