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Sunday, Daniel F
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The Influence of Additives on the Interfacial Width and Line Edge Roughness in Block Copolymer Lithography
par
Sunday
,
Daniel
F
Publié dans:
Chemistry of materials : a publication of the American Chemical Society
(2020)
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2
X-ray characterization of contact holes for block copolymer lithography
par
Sunday
,
Daniel
F
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2019)
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3
Modeling the polarized X-ray scattering from periodic nanostructures with molecular anisotropy
par
Liman, Christopher D
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2017)
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,
Daniel
F
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