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  1. 1
    Efficient high-order suppression system for a metrology beamline
    Efficient high-order suppression system for a metrology beamline
    von Sokolov, A
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2018)

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  2. 2
    Gratings for synchrotron and FEL beamlines a project for the manufacture of ultra-precise gratings at Helmholtz Zentrum Berlin
    Gratings for synchrotron and FEL beamlines a project for the manufacture of ultra-precise gratings at Helmholtz Zentrum Berlin
    von Siewert, F
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2018)
    Weitere Verfasser: “...Sokolov, A...”

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  3. 3
    The at-wavelength metrology facility for UV- and XUV-reflection and diffraction optics at BESSY-II
    The at-wavelength metrology facility for UV- and XUV-reflection and diffraction optics at BESSY-II
    von Schäfers, F
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2016)
    Weitere Verfasser: “...Sokolov, A...”

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  4. 4
    Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B₄C and Ni coatings at 0.1-2 keV
    Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B₄C and Ni coatings at 0.1-2 keV
    von Kozhevnikov, I V
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2015)
    Weitere Verfasser: “...Sokolov, A A...”

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Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't XUV optical elements at-wavelength metrology diffraction gratings reflectometer soft X-ray optics PGM beamline XFEL mirrors c-PGM beamline diffractive optics gratings higher orders in-depth profile inverse problem metrology polarimetry reflectivity
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