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Efficient high-order suppression system for a metrology beamline
von
Sokolov, A
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2018)
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2
The at-wavelength metrology facility for UV- and XUV-reflection and diffraction optics at BESSY-II
von
Schäfers, F
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
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