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    Unveiling the Effects of Hydroxyl-Induced Trap States on the Charge Transport in p- and n-Channel Organic Field-Effect Transistors through Variable-Temperature Characterization
    Unveiling the Effects of Hydroxyl-Induced Trap States on the Charge Transport in p- and n-Channel Organic Field-Effect Transistors through Variable-Temperature Characterization
    von Radiev, Yurii
    Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2025)

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Journal Article Schottky barrier activation energy contact resistance interfacial trap states organic field‐effect transistor transfer length method variable‐temperature analysis
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