Résultat(s) 1 - 1 résultats de 1 pour la requête 'Radiev, Yurii' Aller au contenu
VuFind
  • Panier (Plein)
  • Aide
  • de
  • fr
Recherche avancée
  • Auteur
  • Radiev, Yurii
Résultat(s) 1 - 1 résultats de 1 pour la requête 'Radiev, Yurii', Temps de recherche: 0,95s Affiner les résultats
  1. 1
    Unveiling the Effects of Hydroxyl-Induced Trap States on the Charge Transport in p- and n-Channel Organic Field-Effect Transistors through Variable-Temperature Characterization
    Unveiling the Effects of Hydroxyl-Induced Trap States on the Charge Transport in p- and n-Channel Organic Field-Effect Transistors through Variable-Temperature Characterization
    par Radiev, Yurii
    Publié dans: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2025)

    Article en ligne
    Ajouter au panier Retirer du panier
Outils de recherche: S'abonner aux flux RSS — Envoyer cette recherche par courriel

Sujets similaires

Journal Article Schottky barrier activation energy contact resistance interfacial trap states organic field‐effect transistor transfer length method variable‐temperature analysis
Deutsches Historisches Institut Paris
Hôtel Duret-de-Chevry
8 rue du Parc-Royal
75003 Paris
Tel.
+33 1 44542380
Fax
+33 1 42715643
E-Mail
info@dhi-paris.fr

Das DHIP ist Teil der

Follow us!

  • twitter
  • facebook
  • youtube
  • rss
  • email
  • Bibliothèque
  • OPAC
  • Mentions légales
  • Protection des données
© 2021 DHIP IHA
Chargement en cours...