Résultat(s) 1 - 1 résultats de 1 pour la requête '' Aller au contenu
VuFind
  • Panier (Plein)
  • Aide
  • de
  • fr
Recherche avancée
Suggestion de sujets: transfer length method
Bestand: DHI Paris
Montrer les filtres (2)
Suggestion de sujets: transfer length method
Bestand: DHI Paris
  • Résultats de la recherche
Suggestion de sujets dans votre recherche. Suggestion de sujets dans votre recherche.
Journal Article 1 Schottky barrier 1 activation energy 1 contact resistance 1 interfacial trap states 1 organic field‐effect transistor 1 transfer length method plus ... variable‐temperature analysis 1 moins ...
Résultat(s) 1 - 1 résultats de 1 pour la requête '', Temps de recherche: 4,71s Affiner les résultats
  1. 1
    Unveiling the Effects of Hydroxyl-Induced Trap States on the Charge Transport in p- and n-Channel Organic Field-Effect Transistors through Variable-Temperature Characterization
    Unveiling the Effects of Hydroxyl-Induced Trap States on the Charge Transport in p- and n-Channel Organic Field-Effect Transistors through Variable-Temperature Characterization
    par Radiev, Yurii
    Publié dans: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2025)

    Article en ligne
    Ajouter au panier Retirer du panier
Outils de recherche: S'abonner aux flux RSS — Envoyer cette recherche par courriel

Restreindre la recherche

Chargement en cours... Chargement interrompu
Chargement en cours... Chargement interrompu
Chargement en cours... Chargement interrompu
Chargement en cours... Chargement interrompu
Chargement en cours... Chargement interrompu
Chargement en cours... Chargement interrompu
Chargement en cours... Chargement interrompu
Deutsches Historisches Institut Paris
Hôtel Duret-de-Chevry
8 rue du Parc-Royal
75003 Paris
Tel.
+33 1 44542380
Fax
+33 1 42715643
E-Mail
info@dhi-paris.fr

Das DHIP ist Teil der

Follow us!

  • twitter
  • facebook
  • youtube
  • rss
  • email
  • Bibliothèque
  • OPAC
  • Mentions légales
  • Protection des données
© 2021 DHIP IHA
Chargement en cours...