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Ab initio simulation of diffractometer instrumental function for high-resolution X-ray diffraction
von
Mikhalychev
,
Alexander
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2015)
Aufsatz
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2
Characterization of SiGe thin films using a laboratory X-ray instrument
von
Ulyanenkova, Tatjana
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2013)
Weitere Verfasser:
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...
Mikhalychev
,
Alexander
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ab initio simulation
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