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    In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy
    von Lotze, Gudrun
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)

    Online-Aufsatz

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    In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy. Corrigendum
    von Lotze, Gudrun
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)

    Online-Aufsatz

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