In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy

open access.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 31(2024), Pt 1 vom: 01. Jan., Seite 42-54
1. Verfasser: Lotze, Gudrun (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Iyer, Anand H S, Bäcke, Olof, Kalbfleisch, Sebastian, Colliander, Magnus Hörnqvist
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article in situ deformation nanodiffraction nanoindentation sample environment stress mapping