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    Self-Reporting Multiple Microscopic Stresses Through Tunable Microcapsule Arrays

    Article en ligne

  2. 2
    In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy. Corrigendum

    Article en ligne

  3. 3
    In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy

    Article en ligne

  4. 4
    A synchrotron X-ray diffraction deconvolution method for the measurement of residual stress in thermal barrier coatings as a function of depth
    par Li, C
    Publié dans: Journal of applied crystallography (2016)
    Article

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