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In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy
von
Lotze, Gudrun
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2024)
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In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy. Corrigendum
von
Lotze, Gudrun
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2024)
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