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1

The Influence of Additives on the Interfacial Width and Line Edge Roughness in Block Copolymer Lithography

von Sunday, Daniel F
Veröffentlicht in: Chemistry of materials : a publication of the American Chemical Society (2020)
Weitere Verfasser: “...Kline, R Joseph...”

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2

X-ray characterization of contact holes for block copolymer lithography

von Sunday, Daniel F
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2019)
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3

Xi-cam a versatile interface for data visualization and analysis

von Pandolfi, Ronald J
Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2018)
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4

NIST Standard Reference Material 3600 Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering

von Allen, Andrew J
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2017)
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5

Modeling the polarized X-ray scattering from periodic nanostructures with molecular anisotropy

von Liman, Christopher D
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2017)
Weitere Verfasser: “...Kline, R Joseph...”

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6

The influence of polymer purification on photovoltaic device performance of a series of indacenodithiophene donor polymers

von Ashraf, Raja Shahid
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2013)
Weitere Verfasser: “...Kline, R Joseph...”

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7

$Use of X-ray diffraction, molecular simulations, and spectroscopy to determine the molecular packing in a polymer-fullerene bimolecular crystal$

Use of X-ray diffraction, molecular simulations, and spectroscopy to determine the molecular packing in a polymer-fullerene bimolecular crystal

von Miller, Nichole Cates
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2012)
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8

Molecular characterization of organic electronic films

von DeLongchamp, Dean M
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2011)
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9

Microstructural characterization and charge transport in thin films of conjugated polymers

von Salleo, Alberto
Veröffentlicht in: Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.) (2010)
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