Neural network analysis of neutron and X-ray reflectivity data incorporating prior knowledge

von Munteanu, Valentin
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2024)

Machine learning for scattering data strategies, perspectives and applications to surface scattering

von Hinderhofer, Alexander
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2023)

Fast fitting of reflectivity data of growing thin films using neural networks

von Greco, Alessandro
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2019)