Fast fitting of reflectivity data of growing thin films using neural networks

© Alessandro Greco et al. 2019.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 52(2019), Pt 6 vom: 01. Dez., Seite 1342-1347
1. Verfasser: Greco, Alessandro (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Starostin, Vladimir, Karapanagiotis, Christos, Hinderhofer, Alexander, Gerlach, Alexander, Pithan, Linus, Liehr, Sascha, Schreiber, Frank, Kowarik, Stefan
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2019
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article X-ray reflectivity machine learning neural networks organic semi-conductors