Treffer
1 - 6
von
6
für Suche '
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Merkliste
(Voll)
Hilfe
de
fr
Alle Felder
Titel
Verfasser
Schlagwort
Signatur
ISBN/ISSN
Tag
Suchen
Erweitert
Ähnliche Schlagwörter:
reflectometry
Bestand:
DHI Paris
Filter anzeigen (2)
Ähnliche Schlagwörter:
reflectometry
Bestand:
DHI Paris
Suchergebnisse
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Journal Article
6
reflectometry
machine learning
3
Bayesian analysis
1
FAIR data standards
1
NOM
1
Python
1
mehr ...
Review
1
X-ray analysis
1
X-ray optics
1
XRR
1
XUV Raman spectrometer
1
autonomous experiments
1
beamline control
1
closed-loop control
1
data analysis
1
inverse problems
1
metrology for synchrotron optics
1
neutron analysis
1
ray tracing
1
reflectivity
1
soft matter
1
surface X-ray diffraction
1
weniger ...
Treffer
1 - 6
von
6
für Suche '
'
, Suchdauer: 0,79s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Nach Datum, aufsteigend
Verfasser
Titel
1
Neural network analysis of neutron and X-ray reflectivity data incorporating prior knowledge
von
Munteanu, Valentin
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2024)
Online-Aufsatz
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
2
Advice on describing Bayesian analysis of neutron and X-ray reflectometry
von
McCluskey, Andrew R
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2023)
Online-Aufsatz
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
3
Closing the loop autonomous experiments enabled by machine-learning-based online data analysis in synchrotron beamline environments
von
Pithan, Linus
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2023)
Online-Aufsatz
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
4
Neural network analysis of neutron and X-ray reflectivity data automated analysis using mlreflect, experimental errors and feature engineering
von
Greco, Alessandro
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2022)
Online-Aufsatz
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
5
GenX 3 the latest generation of an established tool
von
Glavic, Artur
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2022)
Online-Aufsatz
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
6
Diffraction gratings metrology and ray-tracing results for an XUV Raman spectrometer at FLASH
von
Dziarzhytski, Siarhei
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2018)
Online-Aufsatz
Auf die Merkliste
Aus der Merkliste entfernen
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
—
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche einschränken
Bestand
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Format
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Verfasser
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Erscheinungsjahr
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Sprache
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Dokumenttyp
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Basisklassifikation
Wird geladen...
Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen...