© Anton Zubayer et al. 2025.
Détails bibliographiques
| Publié dans: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 58(2025), Pt 4 vom: 01. Aug., Seite 1299-1310
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| Auteur principal: |
Zubayer, Anton
(Auteur) |
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| Autres auteurs: |
Eriksson, Fredrik,
Ghafoor, Naureen,
Stahn, Jochen,
Birch, Jens,
Glavic, Artur |
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| Format: | Article en ligne
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| Langue: | English |
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| Publié: |
2025
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| Accès à la collection: | Journal of applied crystallography
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| Sujets: | Journal Article
magnetic reference layers
neutron scattering
reflectometry
sensitivity
thin films |
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