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    X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
    von Todt, J
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2016)
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  2. 2
    Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae
    von Zalesak, J
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2016)
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    Aufsatz

  3. 3
    An in situ atomic force microscope for normal-incidence nanofocus X-ray experiments
    von Vitorino, M V
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2016)
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  4. 4
    Raster microdiffraction with synchrotron radiation of hydrated biopolymers with nanometre step-resolution case study of starch granules
    von Riekel, C
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2010)
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