Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Todt, J', Temps de recherche: 1,86s Affiner les résultats
  1. 1
    Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae
    Autres auteurs: “...Todt, J...”
    Article

  2. 2
    X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
    par Todt, J
    Publié dans: Journal of applied crystallography (2016)
    Article

Outils de recherche: S'abonner aux flux RSS — Envoyer cette recherche par courriel