Résultat(s)
1 - 5
résultats de
5
pour la requête '
'
Aller au contenu
VuFind
Panier
(Plein)
Aide
de
fr
Tous les champs
Titre
Auteur
Sujet
Cote
ISBN/ISSN
Tag
Rechercher
Recherche avancée
Suggestion de sujets:
X-ray nanodiffraction
Bestand:
DHI Paris
Montrer les filtres (2)
Suggestion de sujets:
X-ray nanodiffraction
Bestand:
DHI Paris
Résultats de la recherche
Suggestion de sujets dans votre recherche.
Suggestion de sujets dans votre recherche.
Journal Article
5
X-ray nanodiffraction
KxNa1−xNbO3
1
combinatorial search
1
diffuse scattering
1
domain engineering
1
domain melting
1
plus ...
domain walls
1
ferroelectric domains
1
ferroelectrics
1
lattice contraction
1
nanomaterials
1
residual stress
1
single nanowire devices
1
strained epitaxial films
1
thin films
1
through-silicon via
1
moins ...
Résultat(s)
1 - 5
résultats de
5
pour la requête '
'
, Temps de recherche: 3,67s
Affiner les résultats
Trier
Pertinence
Date (décroissante)
Date (croissante)
Auteur
Titre
1
Sub-Nanosecond Reconfiguration of Ferroelectric Domains in Bismuth Ferrite
par
Guzelturk, Burak
Publié dans:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2023)
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
2
Scanning X-ray nanodiffraction from ferroelectric domains in strained K0.75Na0.25NbO3 epitaxial films grown on (110) TbScO3
par
Schmidbauer, Martin
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2017)
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
3
Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae
par
Zalesak, J
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2016)
Article
Chargement en cours...
Ajouter au panier
Retirer du panier
4
In Operando X-Ray Nanodiffraction Reveals Electrically Induced Bending and Lattice Contraction in a Single Nanowire Device
par
Wallentin, Jesper
Publié dans:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2016)
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
5
X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
par
Todt, J
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2016)
Article
Chargement en cours...
Ajouter au panier
Retirer du panier
Outils de recherche:
S'abonner aux flux RSS
—
Envoyer cette recherche par courriel
Restreindre la recherche
Bestand
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Format
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Auteur
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Année de publication
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Langue
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Genre
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Classification de base
Chargement en cours...
Chargement interrompu
Chargement en cours...