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film thickness
X-ray absorption fine structure (XAFS)
1
coating‐speed
1
copper oxide
1
green solvent
1
scaling lag
1
plus ...
silicon dioxide
1
solution processability
1
moins ...
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1
Processability Considerations for Next-Generation Organic Photovoltaic Materials
par
Yang, Xinrong
Publié dans:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2025)
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2
A practical method for determining film thickness using X-ray absorption spectroscopy in total electron yield mode
par
Isomura, Noritake
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2021)
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