A reference material for X-ray diffraction line profile analysis

© P. Scardi et al. 2025.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of applied crystallography. - 1998. - 58(2025), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1764-1777
Auteur principal: Scardi, P (Auteur)
Autres auteurs: D'Incau, M, Malagutti, M A, Terban, M W, Hinrichsen, B, Fitch, A N
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2025
Accès à la collection:Journal of applied crystallography
Sujets:Journal Article Rietveld method Williamson–Hall method X-ray diffraction diffuse scattering line profile analysis pair distribution functions reference materials steel whole powder pattern modelling