A reference material for X-ray diffraction line profile analysis

© P. Scardi et al. 2025.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 58(2025), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1764-1777
1. Verfasser: Scardi, P (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: D'Incau, M, Malagutti, M A, Terban, M W, Hinrichsen, B, Fitch, A N
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2025
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article Rietveld method Williamson–Hall method X-ray diffraction diffuse scattering line profile analysis pair distribution functions reference materials steel whole powder pattern modelling