Detecting grain-scale plastic deformation events with time-resolved far-field high-energy diffraction microscopy

© Yuefeng Jin et al. 2025.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of applied crystallography. - 1998. - 58(2025), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1712-1727
Auteur principal: Jin, Yuefeng (Auteur)
Autres auteurs: Li, Wenxi, Das, Amlan, Shanks, Katherine, Bucsek, Ashley
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2025
Accès à la collection:Journal of applied crystallography
Sujets:Journal Article X-ray characterization creep loading far-field high-energy diffraction microscopy plastic deformation titanium–aluminium alloys