Detecting grain-scale plastic deformation events with time-resolved far-field high-energy diffraction microscopy

© Yuefeng Jin et al. 2025.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 58(2025), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1712-1727
1. Verfasser: Jin, Yuefeng (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Li, Wenxi, Das, Amlan, Shanks, Katherine, Bucsek, Ashley
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2025
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article X-ray characterization creep loading far-field high-energy diffraction microscopy plastic deformation titanium–aluminium alloys