Method for visualizing detailed profiles of synchrotron X-ray beams using diamond-thin films and silicon drift detectors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - (2025) vom: 01. Mai
1. Verfasser: Kudo, Togo (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Suzuki, Shinji, Sano, Mutsumi, Itoga, Toshiro, Masunaga, Hiroyasu, Goto, Shunji, Takahashi, Sunao
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2025
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article X-ray beam position monitors X-ray beam profile monitors diffraction-limited storage rings front-end slits silicon drift detectors undulators