Deep Learning Analysis of Localized Interlayer Stacking Displacement and Dynamics in Bilayer Phosphorene

© 2025 The Author(s). Advanced Materials published by Wiley‐VCH GmbH.

Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 37(2025), 14 vom: 03. Apr., Seite e2416480
Auteur principal: Lee, Kihyun (Auteur)
Autres auteurs: Lee, Sol, Lee, Yangjin, Kim, Kwanpyo
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2025
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article deep learning analysis edge reconstruction in situ TEM analysis phosphorene stacking order