Deep Learning Analysis of Localized Interlayer Stacking Displacement and Dynamics in Bilayer Phosphorene

© 2025 The Author(s). Advanced Materials published by Wiley‐VCH GmbH.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 37(2025), 14 vom: 03. Apr., Seite e2416480
1. Verfasser: Lee, Kihyun (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lee, Sol, Lee, Yangjin, Kim, Kwanpyo
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2025
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article deep learning analysis edge reconstruction in situ TEM analysis phosphorene stacking order