In-Device Ballistic-Electron-Emission Spectroscopy for Accurately In Situ Mapping Energy Level Alignment at Metal-Organic Semiconductors Interface

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Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 37(2025), 1 vom: 01. Jan., Seite e2412758
Auteur principal: Meng, Ke (Auteur)
Autres auteurs: Zheng, Ruiheng, Gu, Xianrong, Zhang, Rui, Guo, Lidan, Qin, Yang, Yang, Tingting, Li, Min, Hu, Shunhua, Zhang, Cheng, Wu, Meng, Guo, Ankang, Yang, Xueli, Zhang, Jianqi, Sun, Xiangnan
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2025
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article energy barrier energy level alignment in‐device ballistic‐electron‐emission spectroscopy metal/organic semiconductor interface organic electronics