In-Device Ballistic-Electron-Emission Spectroscopy for Accurately In Situ Mapping Energy Level Alignment at Metal-Organic Semiconductors Interface

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - (2024) vom: 10. Nov., Seite e2412758
1. Verfasser: Meng, Ke (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Zheng, Ruiheng, Gu, Xianrong, Zhang, Rui, Guo, Lidan, Qin, Yang, Yang, Tingting, Li, Min, Hu, Shunhua, Zhang, Cheng, Wu, Meng, Guo, Ankang, Yang, Xueli, Zhang, Jianqi, Sun, Xiangnan
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article energy barrier energy level alignment in‐device ballistic‐electron‐emission spectroscopy metal/organic semiconductor interface organic electronics