Evaluation of X-ray fluorescence for analysing critical elements in three electronic waste matrices : A comprehensive comparison of analytical techniques

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Waste management (New York, N.Y.). - 1999. - 190(2024) vom: 15. Nov., Seite 496-505
1. Verfasser: Lancaster, Shaun T (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sahlin, Eskil, Oelze, Marcus, Ostermann, Markus, Vogl, Jochen, Laperche, Valérie, Touze, Solène, Ghestem, Jean-Philippe, Dalencourt, Claire, Gendre, Régine, Stammeier, Jessica, Klein, Ole, Pröfrock, Daniel, Košarac, Gala, Jotanovic, Aida, Bergamaschi, Luigi, Di Luzio, Marco, D'Agostino, Giancarlo, Jaćimović, Radojko, Eberhard, Melissa, Feiner, Laura, Trimmel, Simone, Rachetti, Alessandra, Sara-Aho, Timo, Roethke, Anita, Michaliszyn, Lena, Pramann, Axel, Rienitz, Olaf, Irrgeher, Johanna
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Waste management (New York, N.Y.)
Schlagworte:Journal Article Comparative Study Battery LED PCB Recycling WEEE XRF Metals