Low-dose electron microscopy imaging for beam-sensitive metal-organic frameworks
© Liang and Zhou 2024.
| Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 57(2024), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1270-1281 |
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| Format: | Online-Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2024
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of applied crystallography |
| Schlagworte: | Journal Article Review beam sensitive materials low-dose imaging metal–organic frameworks transmission electron microscopy |
| Online verfügbar |
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