Low-dose electron microscopy imaging for beam-sensitive metal-organic frameworks
© Liang and Zhou 2024.
| Publié dans: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 57(2024), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1270-1281 |
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| Autres auteurs: | |
| Format: | Article en ligne |
| Langue: | English |
| Publié: |
2024
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| Accès à la collection: | Journal of applied crystallography |
| Sujets: | Journal Article Review beam sensitive materials low-dose imaging metal–organic frameworks transmission electron microscopy |
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