Electronic Confinement-Restrained

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Détails bibliographiques
Publié dans:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 47 vom: 22. Nov., Seite e2410797
Auteur principal: Zhang, Heng (Auteur)
Autres auteurs: Gu, Zhen-Yi, Wang, Xiao-Tong, Zhao, Xin-Xin, Heng, Yong-Li, Liu, Yan, Yang, Jia-Lin, Zheng, Shuo-Hang, Wu, Xing-Long
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2024
Accès à la collection:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Sujets:Journal Article anti‐site defects cathode electron confinement sodium‐ion batteries voltage hysteresis