Electronic Confinement-Restrained

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 47 vom: 01. Nov., Seite e2410797
1. Verfasser: Zhang, Heng (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Gu, Zhen-Yi, Wang, Xiao-Tong, Zhao, Xin-Xin, Heng, Yong-Li, Liu, Yan, Yang, Jia-Lin, Zheng, Shuo-Hang, Wu, Xing-Long
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article anti‐site defects cathode electron confinement sodium‐ion batteries voltage hysteresis