© 2024 The Author(s). Advanced Materials published by Wiley‐VCH GmbH.
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - (2024) vom: 16. Aug., Seite e2406105
|
|---|
| 1. Verfasser: |
Dallaire, Nicholas
(VerfasserIn) |
|---|
| Weitere Verfasser: |
Boileau, Nicholas T,
Myers, Ian,
Brixi, Samantha,
Ourabi, May,
Raluchukwu, Ewenike,
Cranston, Rosemary,
Lamontagne, Halynne R,
King, Benjamin,
Ronnasi, Bahar,
Melville, Owen A,
Manion, Joseph G,
Lessard, Benoît H |
|---|
| Format: | Online-Aufsatz
|
|---|
| Sprache: | English |
|---|
| Veröffentlicht: |
2024
|
|---|
| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
|
|---|
| Schlagworte: | Journal Article
automatic electrical tester (autotester)
high throughput characterization
organic thin film transistors (OTFT)
semiconductor validation
testing and automation |
|---|