Millisecond X-ray reflectometry and neural network analysis : unveiling fast processes in spin coating

© David Schumi-Mareček et al. 2024.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 57(2024), Pt 2 vom: 01. Apr., Seite 314-323
1. Verfasser: Schumi-Mareček, David (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Bertram, Florian, Mikulík, Petr, Varshney, Devanshu, Novák, Jiří, Kowarik, Stefan
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2024
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article X-ray reflectometry millisecond XRR neural network analysis spin coating