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Détails bibliographiques
| Publié dans: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 36(2024), 1 vom: 28. Jan., Seite e2305370
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| Auteur principal: |
Liu, Dapeng
(Auteur) |
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| Autres auteurs: |
Zhang, Junyao,
Shi, Qianqian,
Sun, Tongrui,
Xu, Yutong,
Li, Li,
Tian, Li,
Xiong, Lize,
Zhang, Jianhua,
Huang, Jia |
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| Format: | Article en ligne
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| Langue: | English |
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| Publié: |
2024
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| Accès à la collection: | Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
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| Sujets: | Journal Article
durability
radical effect
stability
synaptic transistors |
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