Modern Scattering-Type Scanning Near-Field Optical Microscopy for Advanced Material Research

Modern Scattering-Type Scanning Near-Field Optical Microscopy for Advanced Material Research

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 34(2022), 36 vom: 11. Sept., Seite e2205636
1. Verfasser: Chen, Xinzhong (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Hu, Debo, Mescall, Ryan, You, Guanjun, Basov, D N, Dai, Qing, Liu, Mengkun
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2022
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Published Erratum
Online verfügbar Volltext