Review of Semiconductor Flash Memory Devices for Material and Process Issues

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 35(2023), 43 vom: 19. Okt., Seite e2200659
1. Verfasser: Kim, Seung Soo (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yong, Soo Kyeom, Kim, Whayoung, Kang, Sukin, Park, Hyeon Woo, Yoon, Kyung Jean, Sheen, Dong Sun, Lee, Seho, Hwang, Cheol Seong
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2023
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article Review NAND architecture charge-trapping memory layer stacking material and process issues multilevel data