Grazing-incidence X-ray diffraction tomography for characterizing organic thin films

© Esther H. R. Tsai et al. 2021.

Détails bibliographiques
Publié dans:Journal of applied crystallography. - 1998. - 54(2021), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1327-1339
Auteur principal: Tsai, Esther H R (Auteur)
Autres auteurs: Xia, Yu, Fukuto, Masafumi, Loo, Yueh-Lin, Li, Ruipeng
Format: Article en ligne
Langue:English
Publié: 2021
Accès à la collection:Journal of applied crystallography
Sujets:Journal Article GIWAXS grazing-incidence wide-angle X-ray scattering organic transistors thin films tomography