Grazing-incidence X-ray diffraction tomography for characterizing organic thin films

© Esther H. R. Tsai et al. 2021.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 54(2021), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1327-1339
1. Verfasser: Tsai, Esther H R (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Xia, Yu, Fukuto, Masafumi, Loo, Yueh-Lin, Li, Ruipeng
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2021
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article GIWAXS grazing-incidence wide-angle X-ray scattering organic transistors thin films tomography