Surface Diffusion and Epitaxial Self-Planarization for Wafer-Scale Single-Grain Metal Chalcogenide Thin Films

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.). - 1998. - 33(2021), 35 vom: 07. Sept., Seite e2102252
1. Verfasser: Giri, Anupam (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Kumar, Manish, Kim, Jaeseon, Pal, Monalisa, Banerjee, Writam, Nikam, Revannath Dnyandeo, Kwak, Junghyeok, Kong, Minsik, Kim, Seong Hun, Thiyagarajan, Kaliannan, Kim, Geonwoo, Hwang, Hyunsang, Lee, Hyun Hwi, Lee, Donghwa, Jeong, Unyong
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2021
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
Schlagworte:Journal Article 2D materials epitaxial self-planarization metal chalcogenides transfer-free device fabrication wafer-scale single-crystal thin films