Characterizing dislocation loops in irradiated polycrystalline Zr alloys by X-ray line profile analysis of powder diffraction patterns with satellites

© Tamás Ungár et al. 2021.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 54(2021), Pt 3 vom: 01. Juni, Seite 803-821
1. Verfasser: Ungár, Tamás (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Ribárik, Gábor, Topping, Matthew, Jones, Rebecca M A, Dan Xu, Xiao, Hulse, Rory, Harte, Allan, Tichy, Géza, Race, Christopher P, Frankel, Philipp, Preuss, Michael
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2021
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article X-ray line profile analysis dipole character of small loops satellite peaks scattering by irradiation-induced dislocation loops small dislocation loops total dislocation density of loops types of dislocation loop