Instrument-model refinement in normalized reciprocal-vector space for X-ray Laue diffraction

© International Union of Crystallography 2020.

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 5 vom: 01. Okt., Seite 1370-1375
1. Verfasser: Kamiński, Radosław (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Szarejko, Dariusz, Pedersen, Martin N, Hatcher, Lauren E, Łaski, Piotr, Raithby, Paul R, Wulff, Michael, Jarzembska, Katarzyna N
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2020
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of applied crystallography
Schlagworte:Journal Article Laue diffraction X-ray diffraction data processing instrument models refinement