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$Seed-skewness algorithm for X-ray diffraction signal detection in time-resolved synchrotron Laue photocrystallography$

Seed-skewness algorithm for X-ray diffraction signal detection in time-resolved synchrotron Laue photocrystallography

par Szarejko, Dariusz
Publié dans: Journal of synchrotron radiation (2020)

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$Instrument-model refinement in normalized reciprocal-vector space for X-ray Laue diffraction$

Instrument-model refinement in normalized reciprocal-vector space for X-ray Laue diffraction

par Kamiński, Radosław
Publié dans: Journal of applied crystallography (2020)
Autres auteurs: “...Szarejko, Dariusz...”

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