On-demand correction for X-ray response non-uniformity in microstrip detectors by a data-driven approach
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Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 27(2020), Pt 5 vom: 01. Sept., Seite 1172-1179 |
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Format: | Online-Aufsatz |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
2020
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Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation |
Schlagworte: | Journal Article X-ray detectors X-ray scattering data science flat-field correction |
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