X-ray diffraction using focused-ion-beam-prepared single crystals
© Tina Weigel et al. 2020.
| Publié dans: | Journal of applied crystallography. - 1998. - 53(2020), Pt 3 vom: 01. Juni, Seite 614-622 |
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| Autres auteurs: | , , , , , |
| Format: | Article en ligne |
| Langue: | English |
| Publié: |
2020
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| Accès à la collection: | Journal of applied crystallography |
| Sujets: | Journal Article X-ray diffraction focused ion beams sample preparation |
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